Industry Overview
电子零件和半导体行业测量解决方案
针对行业研发、生产和维护环节，提供专业、可靠的测量解决方案。
研发设计
生产制造
运维检测
43 篇方案
电子零件和半导体方案库
围绕核心应用场景的测量方案，持续更新
- 1 电感（线圈、变压器）的特性检查 1个画面内显示电感的L-Q、Rs有效值电阻）、DCR（直流电阻）测量。而且在1个画面内显示含铁芯的线圈等电流特性图表。 要点 · 阻抗分析仪IM3570可在4Hz~5MHz和广范围的测量频率下进行测量。· 使用
- 2 湿度传感器（水晶振动子）的入库检查 频率根据温度变化的水晶振动子传感器中，阻抗的频率特性正确性也是重要的参数之一。使用 IM3570 进行入库检查。 要点 · 使用阻抗分析仪功能可以高速检查共振频率。· 可以检查共振时的阻抗值。· 使用LCR功能
- 3 测量冷却效率 高速数据记录仪和风速变流器组合,实现冷却效率评估和数据管理。 要点 · 在进行装置内的冷却效率评估时，温度的测量是必不可少的，而风速也是一个重要的测量因素。将手持式 10 通道版数据记录仪LR8431-30和热
- 4 PIN二极管高频正向电阻的测量 次时代无线通信5G正在快速普及中。5G拥有低延时以及多连接的特点。例如车对车通信系统VX2，高速通讯的用途在增加。高速信号使用的回路中不可或缺的元器件之一“PIN二极管”。PIN二极管是P区和N区中间夹一层本征层(Intrinsic Layer)的半导体器件。P区、I区、N区取各自的首字母从而被称为PIN。PIN二极管拥有以下特征。• 端子间的电容非常低，对高速信号的传输没有影响。• 施加正向电压时有正向电流流动，使得其能作为可变电阻工作。根据这些特性、成为适用于AGC（
- 5 光电二极管的I-V特性评估 建议通过改变直流电压的同时同步测量微小电流来评估 PD 和 APD 的 I-V 特性。 测试对象 光电二极管和雪崩光电二极管的 I-V 特性评估
- 6 电绝缘材料的相对介电常数/介电损耗角正切温度特性测试 建议通过改变直流电压的同时同步测量微小电流来评估 PD 和 APD 的 I-V 特性。 测试对象 光电二极管和雪崩光电二极管的 I-V 特性评估
- 7 自动化元器件检测 背景 被动元器件，在 5G 和新能源车、消费类电子产品升级的带动下，需求量越来越大。 MLCC、厚膜电阻等，不管是产品的功率、还是对小尺寸产品的追求。客户对产线设备的 要求是，高速、高精度，高一致性的测试设备。 具体应用
- 8 高压电路变压器和电抗器的损耗评估 使用功率分析仪PW8001和AC/DC高压分压器VT1005，可以测量电抗器和变压器等设备的损耗。 测试对象 高压电路变压器和电抗器
- 9 电子元件工作时发热情况的测量 通过热流（热通量）测量以找到发热模式，并且了解温度升高的原因 要点 •虽然电子元件的速度和产量都在增加，但封装越来越小，热密度也越来越大。因此电路的热设计变得尤为重要。•温度变化时一定存在热传递，可以使用热流数
想要了解更多信息、技术与解决方案？
我们的技术团队随时为您解答选型、配套与售后问题。
