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LCR测试仪、阻抗分析仪 共 61 个产品

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阻抗分析仪IM7580A
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IM7580A 阻抗分析仪IM7580A
● 测量频率1MHz~300MHz● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）● 基本精度±0.72%rdg.● 测量方式：RF I-V法● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。
阻抗分析仪IM7581
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IM7581 阻抗分析仪IM7581
● 测量频率100kHz~300MHz● 测量时间：最快0.5ms● 基本精度±0.72%rdg.● 测量方式：RF I-V法● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。
阻抗分析仪IM7583
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IM7583 阻抗分析仪IM7583
● 测量频率：1MHz~600MHz● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）● 基本精度：±0.65% rdg.● 测量方式：RF I-V法● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。
阻抗分析仪IM7585
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IM7585 阻抗分析仪IM7585
● 测量频率：1MHz~1.3GHz● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）● 测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值）● 基本精度：±0.65% rdg.● 测量方式：RF I-V法● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。
365天许可证SA2631-05
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SA2631-05 365天许可证SA2631-05
365天许可证SA2631-05
30天许可证 SA2631-03
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SA2631-03 30天许可证 SA2631-03
30天许可证 SA2631-03
阻抗分析仪IM7587
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IM7587 阻抗分析仪IM7587
● 测试电压测量频率：1MHz~3GHz● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）● 测量值偏差：0.07%（用3GHz测量线圈1nH时）● 基本精度：±0.65% rdg.● 测量方式：RF I-V法● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头尺寸仅手掌大小● 丰富的接触检查（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。
携带箱C1015
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C1015 携带箱C1015
携带箱C1015
连接线 L2280-03
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L2280-03 连接线 L2280-03
连接线 L2280-03
连接线 L2280-01
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L2280-01 连接线 L2280-01
连接线 L2280-01
电池Y电容测试隔离模块 CN095
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CN095 电池Y电容测试隔离模块 CN095
电池Y电容测试隔离模块 CN095
LCR底部电极测试治具 CN027
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CN027 LCR底部电极测试治具 CN027
LCR底部电极测试治具 CN027
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